Prober
适用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试。 自动上下片，Wafer ID读取。 全自动CCD视觉对针定位。 高精度定位平台。 支持常高温测试。 实时生成Mapping显示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。
|
悬浮电源 |
多Site并行 |
多通道高精度 |
支持多种扩展 |
| 型号 | Prober |
| 产品介绍 |
适用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试。
自动上下片，Wafer ID读取。 |
| 功能 |
? 全自动CCD视觉对针定位。 ? 高精度定位平台。 ? 支持常高温测试。 ? 实时生成Mapping显示Bin。 ? 通用GPIB、TTL、R-232接口。 |
Recommend推荐产品
|
中国广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号 |
|
0757 83207313 (销售) |
|
0757 83208786 (销售) |
|
[email protected] |
佛山市联动科技股份有限公司 版权所有 www.ligeh888.cn ? 2015 | 隐私政策 | Sitemap 粤ICP备17127080号-1
